Electron microscopy shows ‘mouse bite’ defects in semiconductors

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本研究由台积电资助,显微设施获美国国家科学基金会支持的CCMR与PARADIM项目资助。

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关于作者

张伟,独立研究员,专注于数据分析与市场趋势研究,多篇文章获得业内好评。